XP205DR超越系列至尊型分析天平
梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。革命性的创新设计带来了前所未有的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。
梅特勒XS系列0.01mg超越系列分析天平
梅特勒0.01mg超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操 作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。
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